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一种RFID读写器性能测试平台

申请号：CN201220597395.4 申请公布号： CN202994918U
申请日： 2012-11-13 申请公布日： 2013-06-12
申请（专利权）人：东莞市华科制造工程研究院有限公司, 专利代理机构： 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
分类号：G01R31/00；G06K17/00

专利介绍

本实用新型涉及RFID读写器测试技术领域，尤其是指一种RFID读写器性能测试平台；本实用新型的升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母；测试时，将RFlD读写器放置在测试托盘上，需要调整RFlD读写器的高度时，调节设置螺栓的末端设置的调节螺母，使测试托盘处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。

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