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一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法

  • 申请号:CN202010218479.1 申请公布号: CN111366475A
  • 申请日: 2020-03-25 申请公布日: 2020-07-03
  • 申请(专利权)人:中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司 专利代理机构: 成都行之专利代理事务所(普通合伙)
  • 分类号:G01N15/00;G01N3/24

专利介绍

本发明公开了一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法,包括以下步骤:进行工程地质分类;获取样本抗剪强度参数;获取样本颗分参数;获取所述碎粒型结构面及结构带的多元回归模型;当对待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数进行测试时,对所述待测区中碎粒型结构面及结构带进行类型判断并进行颗粒分析试验获取待测颗分参数;将所述待测颗分参数输入与所述待测区中碎粒型结构面及结构带类型相匹配的所述多元回归模型中获取待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数。本发明只需要对该碎粒型结构面及结构带进行简单的颗粒分析试验,就可以取代大型剪切试验获取抗剪强度,降低了成本,提高了测试效率。
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