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超高分子量聚乙烯分子量分布曲线的测定方法

  • 申请号:CN200710171788.2 申请公布号: CN101451988A
  • 申请日: 2007-12-05 申请公布日: 2009-06-10
  • 申请(专利权)人:上海联乐化工科技有限公司,上海化工研究院,上海化工研究院天地科技发展有限公司 专利代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
  • 分类号:G01N33/44;G06F17/00

专利介绍

本发明提供一种超高分子量聚乙烯分子量分布曲线的测定方法,所述测定方法包括如下步骤:(a)提供超高分子量聚乙烯的溶液;(b)分级降低所述步骤(a)的溶液的温度,使得溶液中的超高分子量聚乙烯按分子量从高到低逐级析出,析出部分进行分离得到各个分子量级分;(c)分别测定各分子量级分的分子量以及质量,得到积分分布曲线或微分分布曲线。本发明的方法能够准确地测定超高分子量聚乙烯的分子量分布曲线。