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专利详情
一种激光多参数测量装置
申请号：
CN201921785821.5
申请公布号：
CN210741558U
申请日：
2019-10-23
申请公布日：
2020-06-12
申请（专利权）人：
武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司
专利代理机构：
北京众达德权知识产权代理有限公司
分类号：
G01D21/02
专利介绍
本实用新型公开了一种激光多参数测量装置。通过对第一翻折反射镜、光分束器件、半透半反射镜、第一参数测量器件、第二参数测量器件、第三参数测量器件及第四参数测量器件的使用，可以实现对激光多参数的测量，有效解决了现有技术中需要采用多种不同的测量装置来测量激光不同域的参数信息的技术问题，实现了在节省器件的基础上，便于测量激光不同域的参数信息的技术效果。
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