本实用新型公开一种电路测试装置,其中,该电路测试装置包括采样电路、主控芯片、电平转换芯片及用于连接显示设备的信号输出接口,采样电路的输出端与主控芯片的ADC采样端连接,主控芯片的输出端与电平转换芯片的输入端连接,电平转换芯片的输出端与信号输出接口连接;采样电路,用于对待测电路板进行电流和/或电压采样,并输出对应的电流和/或电压模拟采样信号至主控芯片;主控芯片,用于将电流和/或电压模拟采样信号转换为对应的TTL电平信号并输出至电平转换芯片;电平转换芯片,用于将TTL电平信号转换为可供显示设备识别的电平信号,并经信号输出接口输出至显示设备。本实用新型技术方案提升了电路测试装置的可靠性。